2018愛德萬測試技術(shù)研討會圓滿召開
2018年12月11日,國家集成電路設(shè)計西安產(chǎn)業(yè)化基地攜手愛德萬測試(中國)有限公司,于西安志誠麗柏大酒店共同舉辦2018愛德萬測試技術(shù)研討會。本次研討會邀請的單位有771所、Intel、西安紫光國芯、618所、20所、631所、西安飛芯電子等20余家企業(yè)70余人參加。
此次會議,首先由愛德萬高級總監(jiān)夏克金博士,向各參會嘉賓介紹了芯片測試發(fā)展趨勢、產(chǎn)業(yè)分析及公司主營業(yè)務(wù)和各類ATE測試機臺的適用范圍。會議期間,愛德萬工程師分享了最新的物聯(lián)網(wǎng)5G射頻測試技術(shù)的解決方案、專業(yè)的SLT測試方案、物聯(lián)網(wǎng)MCU芯片的一站式測試方案、功率及汽車電子器件測試方案以及人工智能AI芯片的測試方案。并且隆重介紹愛德萬測試新一代的Momery類芯片的T5503HS、T5503HS2測試機臺和低成本便攜式EVA100測試平臺。
本次研討會涉及各個領(lǐng)域,愛德萬測試(中國)有限公司分享最前沿的測試技術(shù)方向,為相關(guān)技術(shù)人員提供參考并耐心解答參會代表的提問和實際項目中遇到的技術(shù)難題。
為推動西安集成電路測試產(chǎn)業(yè)整體發(fā)展,降低ATE芯片測試成本,提高專業(yè)測試人才儲備。國家集成電路設(shè)計西安產(chǎn)業(yè)化基地與愛德萬測試(中國)有限公司推出TE-Clud云測試服務(wù),目前西安本地已有6家用戶使用。
國家集成電路設(shè)計西安產(chǎn)業(yè)化基地長期致力于西安本地測試技術(shù)發(fā)展,每年舉辦各類型的技術(shù)型研討會其學(xué)術(shù)專業(yè)性及形式新穎性為大家?guī)砹瞬煌谝酝捏w驗與視覺盛宴,期待未來會有新的跨越與提升。
撰稿:技術(shù)服務(wù)部
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