芯片散熱有了新思路!復(fù)旦大學(xué)科研團(tuán)隊(duì)的“無縫生長”技術(shù)獲重要進(jìn)展 |
出自:新民晚報(bào) |
隨著半導(dǎo)體芯片的不斷發(fā)展,運(yùn)算速度越來越快,芯片發(fā)熱問題愈發(fā)成為制約芯片技術(shù)發(fā)展的瓶頸,熱管理對于開發(fā)高性能電子芯片至關(guān)重要。近日,復(fù)旦大學(xué)高分子科學(xué)系、聚合物分子工程國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室研究員魏大程團(tuán)隊(duì)經(jīng)過三年努力,在場效應(yīng)晶體管介電基底的界面修飾領(lǐng)域取得重要進(jìn)展。該項(xiàng)工作將有望為解決芯片散熱問題提供一種介電基底修飾的新技術(shù)。 為解決芯片發(fā)熱問題,魏大程團(tuán)隊(duì)開發(fā)了一種共形六方氮化硼(h-BN)修飾技術(shù)(即準(zhǔn)平衡PECVD)。據(jù)魏大程介紹,芯片散熱很大程度上受到各種界面的限制,其中導(dǎo)電溝道附近的半導(dǎo)體和介電基底界面尤其重要。六方氮化硼是一種理想的介電基底修飾材料,能夠改善半導(dǎo)體和介電基底界面。大量研究表明,六方氮化硼修飾能夠降低基底表面粗糙度和雜質(zhì)對載流子輸運(yùn)的影響,提高器件載流子遷移率。然而,六方氮化硼在界面熱耗散領(lǐng)域的潛在應(yīng)用則往往被忽視。 “載流子遷移率涉及器件的發(fā)熱問題,遷移率越高,那么同等電壓下發(fā)熱就越少;而熱耗散則關(guān)系到如何將這些熱量釋放掉?!蔽捍蟪探忉尩?,“普通的六方氮化硼,我們將它比喻成一張紙,一張紙覆蓋在材料表面難免有縫隙,現(xiàn)有六方氮化硼制備方法中的轉(zhuǎn)移過程會(huì)產(chǎn)生更多縫隙,同時(shí)引入雜質(zhì)、缺陷,對研究帶來不利影響。而共形六方氮化硼是完全貼合在材料表面的,中間無縫隙,沒有雜質(zhì)混入,更有利于取得好的結(jié)果?!?/p> “在我們團(tuán)隊(duì)研發(fā)的這項(xiàng)技術(shù)中,共形六方氮化硼是直接在材料表面生長的,不僅完全貼合、不留縫隙,還無需轉(zhuǎn)移?!?據(jù)魏大程介紹,共形六方氮化硼修飾后,二硒化鎢場效應(yīng)晶體管器件遷移率顯著提高;界面熱阻降低;器件工作的最大功率密度提高了2~4倍,高于現(xiàn)有電腦CPU工作的功率密度。這項(xiàng)技術(shù)不僅為解決芯片散熱問題提供了嶄新的思路,同時(shí)具有高普適性,可應(yīng)用于基于二硒化鎢材料的晶體管器件,還可以推廣到其他材料和更多器件應(yīng)用中。此外,該研究中所采用的PECVD技術(shù)是一種芯片制造業(yè)中常用的制造工藝,使得這種共形六方氮化硼具有規(guī)?;a(chǎn)和應(yīng)用的巨大潛力。 研究團(tuán)隊(duì)未來將繼續(xù)致力于開發(fā)場效應(yīng)晶體管電學(xué)材料,包括共軛有機(jī)分子、大分子、低維納米材料,研究場效應(yīng)晶體管器件的設(shè)計(jì)原理以及在光電、化學(xué)傳感、生物傳感等領(lǐng)域的應(yīng)用。 |
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