2017聯(lián)動(dòng)科技產(chǎn)品推廣暨模擬IC測試技術(shù)研討會(huì)
西安市集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展中心攜手IC測試設(shè)備領(lǐng)先的供應(yīng)商聯(lián)動(dòng)科技，誠邀您參加 “ 2017聯(lián)動(dòng)科技產(chǎn)品推廣暨模擬IC測試技術(shù)研討會(huì)” 。通過本次研討會(huì)，您將了解到：
1. Measurement by Trigger Technic 觸發(fā)測量方法
2. Multi Timing Measure Technic 并行多點(diǎn)采樣時(shí)間測量技術(shù)
3. Vector Table on Analog 模擬器件測量的矢量編輯
4. Auto Spike Detector 尖峰自動(dòng)偵測技術(shù)。
會(huì)議為免費(fèi)參加，并有紀(jì)念品和幸運(yùn)抽獎(jiǎng)活動(dòng)，座位有限，報(bào)名從速！報(bào)名請(qǐng)將姓名和聯(lián)系方式發(fā)送到以下聯(lián)系方式：
西安： 劉穎 88328230-8019 liuying@xaic.com.cn
會(huì)議日程：
*僅供Topic參考，具體以現(xiàn)場Agenda為準(zhǔn)
來源：西安集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展中心
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